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镀层孔隙率

颜色、色差

样品的极化曲线

循环伏安曲线

阻抗谱

 

 

 

测试目的:镀层厚度对产品的表面性能有着至关重要的影响,通过对镀层厚度的管控可以有效的控制产品质量。

 

方法1:X射线荧光测厚法简介

特点:能够在样品无损的情况下进行快速、准确量测, 并可测量极薄镀层,最低可至0.005µm,但需要大量高精度膜厚标准片,并定期进行校准。

 

原理:不同金属类别及厚度的镀层在X-Ray光管发出的初次X-Ray光照射下,将激发产生相应强度和频率的特征荧光X-Ray,利用探测器收集这些特征讯号,通过电脑软件处理来量测金属镀层的厚度或合金镀层的厚度及组成。

 

适用范围:常用金属/塑胶基底上之单层或多层金属镀层厚度测量,如Au/Ni/基材工艺之Au&Ni厚度。

 

参考标准:GB/T 16921-1997 & ASTM B568-98

 

测试报告示例:

(1)测试设备:

名  称

型  号

校准有效期

X-Ray荧光膜厚仪

精工9455

2010年7月1日

 

(2)环境条件:温度:22±3℃;  湿度:55±10%RH

(3)参考标准:ASTM B 568-98

(4)测试样品:001

(5)测试条件:将样品直接放入X-Ray膜厚仪中,对指定部位进行膜厚测试。

(6)测试结果:     

 

Sample No.

Au (µ’’)

Ni (µ’’)

Point1

1.18

138.57

Point2

1.18

142.17

Point3

1.20

135.72

Average

1.19

138.82

 

 

方法2:显微镜法(金相显微镜法、扫描电子显微镜法)

 

特点:流程繁锁,制样水平要求高,对低于0.1µm以下镀层极难准确测量。

 

原理:从待测件上指定部位垂直于覆盖层切割块试样,经过镶嵌(一般冷镶)、研磨、抛光和浸蚀制成横截面金相试样,利用金相显微镜或扫描电子显微镜对其镀层放大拍照及量测。

 

适用范围:基本适用于所有单层或多层金属镀层或涂层厚度测量。

 

参考标准: GB/T 6462-2005 & JB/T 7503-94

 

测试报告示例:

(1)测试设备

名  称

型  号

校准有效期

扫描电子显微镜

JSM-6390LA

--- --

 

(2)环境条件:温度:23±2℃;  湿度:55±10%RH

(3)参考标准:GB/T 16594-1996

(4)测试结果

  

样品

名称

层次

Cr/CuZnSn合金/Cu/基材  Unit: μm

测试点1

测试点2

测试点3

测试点4

测试点5

平均值

001

 Cr层

2.98

2.83

2.71

2.71

2.78

2.80

Cu/Zn/Sn合金层

0.68

0.65

0.68

0.70

0.63

0.67

Cu层

22.5

22.7

22.4

22.3

23.0

22.6

 

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